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    数显显微熔点仪SGW®X-4A
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    报     价:¥4800
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    技术参数及详细资料
    主机简介:

    数显显微熔点仪SGW®X-4A

    详细内容:

    显微熔点仪SGW®X-4A

    特点:

    测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

    主要技术参数:

    熔点测量范围:室温至320℃

    测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)

    ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

    温度显示最小值:0.1℃

    熔点观察方式 单目显微镜

    光学放大倍数 40×


    本公司产品的技术参数、价格等随产品发展而更改,请随时联系,以实际出厂产品为准。

    同类产品请见:www.schj17.com

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